ガラス検査

薄ガラス品質について、ディスプレイ生産では最高品質要件への順守の有無を高信頼度で評価します。ISRA のフラットパネルマスター (FPM) 製品ファミリーは現在、薄ガラス基層では最短の検査ラインです。単一システムに複数の検査ステップを組みわせています。

当社のテクノロジは、粒子汚染を監視しながら、同時に表面、ガラスあるいはエッジ上のもっとも微細な欠陥の検出および分類も行います。また、検査データを収集および解析して欠陥原因を観察し、ユーザーは生産プロセスを改善することができます。

FPM ラインは一般的に、以下のモジュールで構成されます。


ガラスおよび表面欠陥検査

もっとも微細な引っかき傷を含め、すべての一般的なガラスおよび表面欠陥を高信頼度で検出および分類します。フル表面粒子カウンターと組み合わせることもできます。


エッジ検査

高解像度画像を使用してエッジ全体の全面ビューを作成することで、研削プロセスでエッジ欠陥とずれを検出できる業界唯一のシステム。


顕微鏡欠陥解析

自動顕微鏡は、さらに高精度でアップストリームプロセスステップで検出した欠陥を分類し、そのガラス中の大きさと位置を高精度で測定します。システムは、もっとも微細な引っかき傷でも、高信頼度で解析します。


粒子カウンター

システムは、基層上の粒子汚染をマイクロメートルレンジまで監視し、洗浄品質を確認し、洗浄プロセスでの不具合に関するクイックフィードバックを行います。


基層搬送

検査中の正確な非接触式搬送に最適なコンベヤソリューション。