SurfaceSTAR GS

Gel Sensor是针对晶点及黑点设计的,完全基于Smash的技术上做到有效监控

即插即用概念

高达100um的检测精度

闭环系统能够快地找到缺陷原因

的有效检测幅宽

接口/OPC兼容以及MQT

SurfaceSTAR GS (Gel Sensor)

SurfaceSTAR GS是一款紧凑型传感器单元,可在薄膜生产过程中可靠地监测凝胶和黑点。它基于经过验证的SMASH技术以及ISRA表面检测的广泛经验和技术能力,拥有大约40年的经验。SurfaceSTAR GS由ISRA vision直接设计为新生产线的单机视觉组件,或作为现有生产线的改造补充。

由于其与PLC过程控制的直接通信,它形成了一个闭环系统,在出现缺陷时对其进行计数和监控。例如,它可以在尽可能早的时间点检测挤出过程中由于温度波动而产生的缺陷,并将其传递给过程控制,从而实现快速调节。这样可以防止制造错误并节省成本

在您的应用上体验SurfaceSTAR GS

薄膜、箔材和片材

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