SurfaceSTAR SIS

该检测系统可靠地检测缺陷,并使用SMASH软件进行复杂的改造。

自动调节功

即插即用概念

新的软件

有竞争力的价格获得良好性能

出色的分类能力

SurfaceSTAR SIS (Surface Inspection System)

SurfaceSTAR SIS是专门为集成商设计的光学检查解决方案。它由符合ISRA高质量嵌入式摄像头标准的摄像头组成,具有大的性能和成熟的照明技术,从一开始就补充了每一个生产系统。

先进的SMASH软件和Touch&Inspect图形用户界面是SurfaceSTAR SIS的补充。检测系统可靠地检测到约150µm的缺陷尺寸。

在您的应用上体验SurfaceSTAR SIS

薄膜、箔材和片材

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