Zuverlässige Defekt Erkennung
Erweiterte, lernende Fehlerklassifizierung
Defekt-Clusteranalyse
Geeignet für die Anbindung an Schnittoptimierungssystem
PATTERNSCAN-Master sorgt für fehlerfreies Solardeckglas mit ultraschneller Musterumschaltung und Multimode-LED-Beleuchtung. Mit nur einer Kamera oder einer Reihe von Kameras kann eine theoretisch unbegrenzte Anzahl von unterschiedlich beleuchteten Ansichten erzeugt werden. Die Informationen aus den verschiedenen Ansichten werden genutzt, um eine zuverlässige und fortschrittliche Fehlerklassifizierung zu erreichen. Das Ergebnis: Defekte, die zuvor als unsichtbar und ununterscheidbar eingestuft wurden, werden sichtbar.
Solarglas
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