Produktübersicht Halbleiter

Entdecken Sie unsere Halbleiter-Lösungen

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CrackScan

Optisches Inspektionssystem identifiziert und lokalisiert kleinste Risse im Wafer-Material

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DicingScan

100%-Kontrolle von Dicing-Straßen in der Halbleiterfertigung

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EdgeScan

100 % Waferkanteninspektion und zuverlässige Fehlererkennung

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SpecGAGE3D

Automatische Oberflächeninspektion von hochreflektierenden Objekten

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WafQScan

Zuverlässige Erkennung von Defekten, wie Verunreinigungen oder Mikrokratzern

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Überzeugen Sie sich von diesen Produkten in den folgenden Inspektions-Bereichen

Übersicht Halbleiter

Ensure high-quality semiconductor wafer production with ISRA VISION's inspection technology. Improve yield and reduce downtime with our advanced solutions.

Back-End-Prozess

Improve quality assurance in semiconductor back-end processes with our 2D and 3D analysis systems.

Wafer-Produktion

Improve your wafer production efficiency with our advanced inspection tools and detect cracks, scratches, and chippings during ongoing wafer production.